金融界2024年11月22日消息，国家知识产权局信息显示，深圳市至和科技有限公司申请一项名为“一种基于图像识别技术的芯片缺陷检测系统”的专利，公开号 CN 118982497 A，申请日期为2024年7月。
专利摘要显示，本发明公开了一种基于图像识别技术的芯片缺陷检测系统，涉及芯片缺陷检测技术领域，解决了现有技术中，不能够在明显缺陷检测后无法通过图像识别技术，对芯片表面进一步进行缺陷检测的技术问题，具体为对芯片的分析图片进行边缘划分检测，通过对芯片分析图片进行图像分析，进一步进行芯片缺陷检测，避免无明显缺陷时无法及时进行缺陷检测，造成缺陷检测不准确降低了芯片检测效率，影响芯片实际使用可行性；对分析图片进行点位分类划分检测，根据分析图像的拍摄时长的增加对应分析图片的数量也持续增加，为此在增加过程汇总对分析图片进行点位分类检测。
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