智客公社

标题: 至和科技申请基于图像识别技术的芯片缺陷检测系统专利，避免无明显缺陷时无法及时进行缺陷检测 [打印本页]

作者: 我爱天思 时间: 2024-11-29 17:15
标题: 至和科技申请基于图像识别技术的芯片缺陷检测系统专利，避免无明显缺陷时无法及时进行缺陷检测
金融界2024年11月22日消息，国家知识产权局信息显示，深圳市至和科技有限公司申请一项名为“一种基于图像识别技术的芯片缺陷检测系统”的专利，公开号 CN 118982497 A，申请日期为2024年7月。

专利摘要显示，本发明公开了一种基于图像识别技术的芯片缺陷检测系统，涉及芯片缺陷检测技术领域，解决了现有技术中，不能够在明显缺陷检测后无法通过图像识别技术，对芯片表面进一步进行缺陷检测的技术问题，具体为对芯片的分析图片进行边缘划分检测，通过对芯片分析图片进行图像分析，进一步进行芯片缺陷检测，避免无明显缺陷时无法及时进行缺陷检测，造成缺陷检测不准确降低了芯片检测效率，影响芯片实际使用可行性；对分析图片进行点位分类划分检测，根据分析图像的拍摄时长的增加对应分析图片的数量也持续增加，为此在增加过程汇总对分析图片进行点位分类检测。

本文源自金融界

作者: 如果裤衩会飞 时间: 2024-11-30 07:07
大神，请收下我的膝盖

作者: 飱淰 时间: 2024-12-1 10:15
想知道楼主的感受，怎么样？

作者: 猫大宏 时间: 2024-12-2 16:28
在撸一遍。。。

欢迎光临智客公社 (https://bbs.cnaiplus.com/)